atomki-mslab-logoatomki-mslab-logoatomki-mslab-logoatomki-mslab-logo
  • Kezdőlap
  • Kutatás
    • Irányvonalak
    • Együttműködések
    • Publikáció
      • Folyóirat publikáció
      • Poszter
  • Laboratórium
    • Az ATOMKI-ról
    • Rólunk
    • Infrastruktúra
    • Munkatársak
    • Digitalizáció
    • Elnyert pályázatok
      • Gazdaságfejlesztési és Innovációs Operatív Program
      • Nemzeti Kulturális Alap
      • Új Nemzeti Kiválóság Program
      • Kooperatív Doktori Program
    • Díjak
    • Kapcsolat
  • Események
✕

Implantation of multiply charged silicon ions into bioinert zirconia

FOLYÓIRAT PUBLIKÁCIÓ

P. Hajdu, R. Rácz, S. Biri, T. Radics, A. Csík, V. Takáts, Cs. Hegedűs, S. Kökényesi

Vacuum 164 (2019) 15-17 Impact factor2019: 2.906

DOI: 10.1016/j.vacuum.2019.02.046

Published: 26 February 2019

Abstract

In dentistry, it is necessary to increase the bonding strength between various bioinert zirconia ceramics and the luting cement in order to extend the lifetime of the restoration. As a new method, an ion source was used to implant silicon ions close to the surface of the zirconium-dioxide on nanoscale to improve chemical bonding in between the bonding agent and the zirconium-dioxide. This paper summarizes the main results of a unique technique to functionalize biomaterial surfaces with silicon ions produced by Electron Cyclotron Resonance Ion Source (ECRIS).

Vissza a FOLYÓIRAT PUBLIKÁCIÓ oldalra
Megosztás

Keresés

✕

Kategóriák

  • Díjak
  • Ferenczi György Emlékdíj
  • Folyóirat publikáció
  • GINOP
  • Ipari megoldások
  • Kooperatív Doktori Program
  • Kultúra és oktatás
  • Kutatási irányvonal
  • Nanostruktúrák szintézise
  • Nemzeti Kulturális Alap
  • Orvosi implantátumok funkcionalizálása
  • Pályázatok
  • Poszter
  • Publikáció
  • ÚNKP
  • Űrkutatás

Konzorciumi pályázat

Konzorcium vezető:
Debreceni Egyetem

Copyright © 2023 Atomki – Minden jog fenntartva!
  • No translations available for this page